Home  Catalogue of authors Catalogue of works Full search Add papers Login

Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоямиетн
Authors
 Хашим Х.
 Сингх С.П.
 Панина Л.В.
 Пудонин Ф.А.
 Шерстнев И.А.
 Подгорная С.В.
 Шпый И.А.
 Беклемишева А.В.
Date of publication
 2017
Type of work
 статья в научном журнале
Library reference
 Хашим Х., Сингх С.П., Панина Л.В., Пудонин Ф.А., Шерстнев И.А., Подгорная С.В., Шпый И.А., Беклемишева А.В. Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоямиетн. Физика твердого тела. 2017. Т. 59. Вып. 11. С. 2191-2196.
To IPPM site    To InfoMES site    Feedback
Copyright © 2012-2024 IPPM RAS. All Rights Reserved.
Updated and substantially revised version of system of 2016.
Design of site: IPPM RAS