Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Probabilistic methods for reliability evaluation of combinational circuits
Авторы
 Stempkovsky A.L.
 Telpukhov D.V.
 Soloviev Roman
 Telpukhova N.V.
Год публикации
 2017
Тип работы
 статья в научном журнале
Ссылка на статью
 Stempkovsky A.L., Telpukhov D.V., Soloviev Roman, Telpukhova N.V. Probabilistic methods for reliability evaluation of combinational circuits. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС-2017). 2017. № 4. С. 41-44.
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН