Кожевников В.С., Матюшкин И.В., Черняев Н.В., Жукова Т.Д. Взаимосвязь физической и информационной энтропий в теории надежности для наноразмерных элементов. Известия высших учебных заведений. Электроника. 2019. Т. 24. № 6. С. 589-600. DOI: 10.24151/1561-5405-2019-24-6-589-600