Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Test Chip for Identifying Spice-Parameters of Cryogenic BiFET Circuits
Авторы
 Dvornikov O.V.
 Prokopenko N.N.
 Tchekhovski V.A.
 Galkin Ya.D.
 Kunts A.V.
 Bugakova A.V.
Год публикации
 2019
Тип работы
 текст доклада на конференции
Ссылка на статью
 Dvornikov O.V., Prokopenko N.N., Tchekhovski V.A., Galkin Ya.D., Kunts A.V., Bugakova A.V. Test Chip for Identifying Spice-Parameters of Cryogenic BiFET Circuits. ESSDERC & ESSCIRC 2019, Proceedings of the ESSDERC 49th European Solid-State Device Research Conference. Cracow, Poland. 23–26 September, 2019. Pp. 102-105. DOI: 10.1109/ESSDERC.2019.8901773 (Scopus)
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН