Home  Catalogue of authors Catalogue of works Full search Add papers Login

Формализация выбора отладочных тестов при проектировании цифровых микроэлектронных систем на основе проверки выполнения требуемых функций
Authors
 Иванников А.Д.
 Стемпковский А.Л.
Date of publication
 2020
Type of work
 статья в научном журнале
Library reference
 Иванников А.Д., Стемпковский А.Л. Формализация выбора отладочных тестов при проектировании цифровых микроэлектронных систем на основе проверки выполнения требуемых функций. Известия высших учебных заведений. Электроника. 2020. Т. 25. № 4. С. 310-319. DOI: 10.24151/1561-5405-2020-25-4-310-319 RSCI
To IPPM site    To InfoMES site    Feedback
Copyright © 2012-2024 IPPM RAS. All Rights Reserved.
Updated and substantially revised version of system of 2016.
Design of site: IPPM RAS