Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Формализация выбора отладочных тестов при проектировании цифровых микроэлектронных систем на основе проверки выполнения требуемых функций
Авторы
 Иванников А.Д.
 Стемпковский А.Л.
Год публикации
 2020
Тип работы
 статья в научном журнале
Ссылка на статью
 Иванников А.Д., Стемпковский А.Л. Формализация выбора отладочных тестов при проектировании цифровых микроэлектронных систем на основе проверки выполнения требуемых функций. Известия высших учебных заведений. Электроника. 2020. Т. 25. № 4. С. 310-319. DOI: 10.24151/1561-5405-2020-25-4-310-319 RSCI
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2025 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН