Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н. Параметрическая модель для анализа эффектов деградации порогового напряжения транзистора. Труды Международного конгресса по интеллектуальным системам и информационным технологиям - 2011. “Интеллектуальные САПР”. 2011. V. 2. С. 96-97.