Petrosyants K.O., Popov D.A., Ismail-zade M.R., Sambursky L.M., Bo Li, Wang Y.C. Tcad and spice models for account of radiation effects in nanoscale mosfet structures. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2020. Вып. 4. С. 2-8. DOI 10.31114/2078-7707-2020-4-2-8