Петросянц К.О., Силкин Д.С., Попов Д.А., Bo Li, Xu Zhang TCAD-моделирование нанометровых структур FinFET на объемном кремнии с учетом воздействия радиации. Известия высших учебных заведений. Электроника. 2021. Т. 26. № 5. С. 374-386. doi: 10.24151/1561-5405-2021-26-5-374-386.