Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

The Capacitance Sensors Application for Sapphire Wafer Flatness Measurement
Авторы
 Skidanov V.A.
Год публикации
 2006
Тип работы
 текст доклада на конференции
Ссылка на статью
 Skidanov V.A. The Capacitance Sensors Application for Sapphire Wafer Flatness Measurement. Digest of the XX Conference "Eurosensors-2006" Proceedings / Gothenborg, Sweden, 17-20 Sept. 2006 – p.p. 394-395
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2025 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН