|
Анализ деградации параметров транзисторов во времени на логическом уровне |
|
|
Авторы |
| Гаврилов С.В. |
| Гудкова О.Н. |
| Щелоков А.Н. |
Год публикации |
| 2011 |
Тип работы |
| статья в научном журнале |
|
Ссылка на статью |
| Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н. Анализ деградации параметров транзисторов во времени на логическом уровне. Известия ЮФУ. Технические науки. 2011. №7. С.188-197. (ISSN 1999-9429). |
|
|
Сайт ИППМ
Сайт ИнфоМЭС
Обратная связь
|
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved. Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года. |
Разработка сайта - ИППМ РАН
|