Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Logical timing analysis of digital IC reliability with NBTI and HCI degradation effects
Авторы
 Gudkova O.N.
Год публикации
 2008
Тип работы
 текст доклада на конференции
Ссылка на статью
 Gudkova O.N. Logical timing analysis of digital IC reliability with NBTI and HCI degradation effects. In Proc. of Moscow-Bavarian Joint Advanced Student School (MB-JASS). Moscow, 2008.
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН