|
Методы логико-временного анализа цифровых СБИС с учетом эффектов деградации транзисторов |
|
|
Авторы |
| Гаврилов С.В. |
| Гудкова О.Н. |
| Каграманян Э.Р. |
Год публикации |
| 2008 |
Тип работы |
| статья в научном журнале |
|
Ссылка на статью |
| Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Каграманян Э.Р. Методы логико-временного анализа цифровых СБИС с учетом эффектов деградации транзисторов. Известия ВУЗов. Электроника. – 2008. - № 6. –С. 30-40. |
|
|
Сайт ИППМ
Сайт ИнфоМЭС
Обратная связь
|
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved. Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года. |
Разработка сайта - ИППМ РАН
|