Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Simulation of Total Dose Influence on Analog-Digital SOI/SOS CMOS Circuits with EKV-RAD macromodel
Авторы
 Петросянц К.О.
 Самбурский Л.М.
 Харитонов И.А.
 Дрозденко Е.С.
 Поварницына З.М.
 Богатырев В.Н.
Год публикации
 2012
Тип работы
 текст доклада на конференции
Ссылка на статью
 Петросянц К.О., Самбурский Л.М., Харитонов И.А., Дрозденко Е.С., Поварницына З.М., Богатырев В.Н. Simulation of Total Dose Influence on Analog-Digital SOI/SOS CMOS Circuits with EKV-RAD macromodel. Proc. of 10th IEEE East-West Design & Test Intl. Symposium (EWDTS'12). Kharkov, Ukraine, September 14-17, 2012. P. 60–65.
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН