Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н. Методы анализа деградации транзисторов во времени для нанометровых технологий. Труды Международного конгресса по интеллектуальным системам и информационным технологиям - 2011. “Интеллектуальные САПР”. 2011. V. 2. С. 95-96.