Home  Catalogue of authors Catalogue of works Full search Add papers Login

Приборное и схемотехническое моделирование характеристик Si БТ и SiGe ГБТ при воздействии нейтронного облучения
Authors
 Кожухов М.В.
 Торговников Р.А.
Date of publication
 2011
Type of work
 текст доклада на конференции
Library reference
 Кожухов М.В., Торговников Р.А. Приборное и схемотехническое моделирование характеристик Si БТ и SiGe ГБТ при воздействии нейтронного облучения. Материалы X научно-технической конференции молодых специалистов «Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА». Дубна, Моск. обл., окт. 2011. С. 170-172.
To IPPM site    To InfoMES site    Feedback
Copyright © 2012-2024 IPPM RAS. All Rights Reserved.
Updated and substantially revised version of system of 2016.
Design of site: IPPM RAS