Автоматизация измерений электрических характеристик биполярных и МОП транзисторов, применяемых в аппаратуре, подверженной воздействию различных видов радиации |
|
|
Authors |
| Петросянц К.О. |
| Харитонов И.А. |
| Самбурский Л.М. |
| Кожухов М.В. |
Date of publication |
| 2015 |
Type of work |
| текст доклада на конференции |
|
Library reference |
| Петросянц К.О., Харитонов И.А., Самбурский Л.М., Кожухов М.В. Автоматизация измерений электрических характеристик биполярных и МОП транзисторов, применяемых в аппаратуре, подверженной воздействию различных видов радиации. Международный симпозиум «Компьютерные измерительные технологии» - 2015. M.: ООО "ДМК пресс. Электронные книги". 3 апреля 2015. С. 135-138. |
|
|