Петросянц К.О., Ширабайкин Д.Б. Математическое моделирование электромиграционных отказов межуровневых соединений БИС. Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2006. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2006. С. 142-147.