|
Математическое моделирование электромиграционных отказов межуровневых соединений БИС |
|
|
Авторы |
| Петросянц К.О. |
| Ширабайкин Д.Б. |
Год публикации |
| 2006 |
Тип работы |
| текст доклада на конференции |
|
Ссылка на статью |
| Петросянц К.О., Ширабайкин Д.Б. Математическое моделирование электромиграционных отказов межуровневых соединений БИС. Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2006. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2006. С. 142-147. |
|
|
Сайт ИППМ
Сайт ИнфоМЭС
Обратная связь
|
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved. Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года. |
Разработка сайта - ИППМ РАН
|