|
|
| Математическое моделирование электромиграционных отказов межуровневых соединений БИС |
|
|
| Авторы |
| | Петросянц К.О. |
| | Ширабайкин Д.Б. |
| Год публикации |
| | 2006 |
| Тип работы |
| | текст доклада на конференции |
|
| Ссылка на статью |
| | Петросянц К.О., Ширабайкин Д.Б. Математическое моделирование электромиграционных отказов межуровневых соединений БИС. Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2006. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2006. С. 142-147. |
|
|
Сайт ИППМ
Сайт ИнфоМЭС
Обратная связь
|
Copyright © 2012-2025 ИППМ РАН. All Rights Reserved. Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года. |
Разработка сайта - ИППМ РАН
|