Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Логико-временной анализ надежности цифровых СБИС с учетом эффектов деградации NBTI и HCI
Авторы
 Гудкова О.Н.
 Гаврилов С.В.
Год публикации
 2008
Тип работы
 текст доклада на конференции
Ссылка на статью
 Гудкова О.Н., Гаврилов С.В. Логико-временной анализ надежности цифровых СБИС с учетом эффектов деградации NBTI и HCI. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 30-35.
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН