Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Temperature Characterization of Small-Scale SOI MOSFETs in the Extended Range (to 300°C)
Авторы
 Petrosyants K.O.
 Lebedev S.V.
 Sambursky L.M.
 Stakhin V.G.
 Kharitonov I.A.
Год публикации
 2016
Тип работы
 текст доклада на конференции
Ссылка на статью
 Petrosyants K.O., Lebedev S.V., Sambursky L.M., Stakhin V.G., Kharitonov I.A. Temperature Characterization of Small-Scale SOI MOSFETs in the Extended Range (to 300°C). Proc. of 22nd International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems (THERMINIC). Budapest, Hungary. September 2016. Pp. 250-254.
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН