Home  Catalogue of authors Catalogue of works Full search Add papers Login

Разработка технологически-независимых метрик для оценки маскирующих свойств логических схем
Authors
 Стемпковский А.Л.
 Тельпухов Д.В.
 Соловьев Р.А.
 Мячиков М.В.
 Тельпухова Н.В.
Date of publication
 2016
Type of work
 статья в научном журнале
Library reference
 Стемпковский А.Л., Тельпухов Д.В., Соловьев Р.А., Мячиков М.В., Тельпухова Н.В. Разработка технологически-независимых метрик для оценки маскирующих свойств логических схем. Вычислительные технологии. 2016. Т. 21. № 2. С. 53-62
To IPPM site    To InfoMES site    Feedback
Copyright © 2012-2024 IPPM RAS. All Rights Reserved.
Updated and substantially revised version of system of 2016.
Design of site: IPPM RAS