Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Разработка технологически-независимых метрик для оценки маскирующих свойств логических схем
Авторы
 Стемпковский А.Л.
 Тельпухов Д.В.
 Соловьев Р.А.
 Мячиков М.В.
 Тельпухова Н.В.
Год публикации
 2016
Тип работы
 статья в научном журнале
Ссылка на статью
 Стемпковский А.Л., Тельпухов Д.В., Соловьев Р.А., Мячиков М.В., Тельпухова Н.В. Разработка технологически-независимых метрик для оценки маскирующих свойств логических схем. Вычислительные технологии. 2016. Т. 21. № 2. С. 53-62
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН