Listing of all the works of the author. Click on the work title to get the full information.
Гудкова О.Н. (Gudkova O.N.)
| 2007 | |
| |  | Гудкова О.Н.
Исследование влияния функционального состава библиотеки на параметры проектируемых устройств |
| 2008 | |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Каграманян Э.Р.
Методы логико-временного анализа цифровых СБИС с учетом эффектов деградации транзисторов |
| | | Гудкова О.Н., Гаврилов С.В.
Логико-временной анализ надежности цифровых СБИС с учетом эффектов деградации NBTI и HCI |
| | | Gudkova O.N.
Logical timing analysis of digital IC reliability with NBTI and HCI degradation effects |
| | | Гудкова О.Н.
Методы анализа состава библиотек стандартных ячеек БИС |
| 2009 | |
| | | Каграманян Э.Р., Гудкова О.Н.
Разработка модели деградации временных параметров цифровых элементов для статического временного анализа нанометровых СБИС |
| | | Стемпковский А.Л., Глебов А.Л., Гаврилов С.В., Гудкова О.Н.
Вероятности напряженного состояния транзисторов для временного анализа с учетом электротемпературной нестабильности |
| 2010 | |
| | | Гудкова О.Н., Скачкова Е.П., Муханюк Н.Н., Гаврилов С.В., Соловьев Р.А.
Методы ускоренной характеризации больших параметризованных сложно-функциональных блоков |
| | | Гудкова О.Н., Гаврилов С.В., Егоров Ю.Б.
Метод аппроксимации сечений для оптимизации характеризационной сетки при проектировании библиотек элементов |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Егоров Ю.Б.
Методы ускоренной характеризации библиотек элементов СБИС с контролем заданной точности |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Егоров Ю.Б.
Статистический анализ сложных функциональных блоков |
| | | Гудкова О.Н., Королев К.Г.
Метод статистического моделирования сложных функциональных блоков БИС |
| | | Гудкова О.Н., Скачкова Е.П.
Контроль точности макромоделей при характеризации библиотечных элементов с проектными нормами в нанометровом диапазоне |
| 2011 | |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Методы анализа деградации транзисторов во времени для нанометровых технологий |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Анализ деградации параметров транзисторов во времени на логическом уровне |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Параметрическая модель для анализа эффектов деградации порогового напряжения транзистора |
| 2012 | |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Северцев В.Н.
Интервальный статический временной анализ КМОП-схем с учетом логических корреляций |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Пирютина Г.А.
Метод анализа быстродействия вентилей с учетом одновременного переключения входов |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Стемпковский А.Л.
Анализ быстродействия нанометровых сложно-функциональных блоков на основе интервального моделирования |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н.
Программа NL-PrAn анализа логических состояний в КМОП-схемах на основе вероятностного подхода (№2012611697) |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Соловьев Р.А.
Программа NL-LCA автоматического поиска и генерации логических ограничений в КМОП-схемах (№2012611913) |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Аппарат характеристических функций интервалов для контроля логической совместимости путей распространения сигналов |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Метод распространения задержек вдоль схемы на основе логико-временных интервалов |
| | | Гаврилов С.В., Гудкова О.Н., Щелоков А.Н.
Логико-временной анализ нанометровых схем на основе интервального подхода |
| 2013 | |
| | | Gavrilov S.V., Gudkova O.N., Soloviev Roman
Timing Analysis for Complex Digital Gates and Circuits Accounting for Transistor Degradation |
| | | Gavrilov S.V., Gudkova O.N., Stempkovsky A.L.
The Analysis of the Performance of Nanometer Intellectual Property Blocks Based on Interval Simulation |
| |
