Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоямиетн
Авторы
 Хашим Х.
 Сингх С.П.
 Панина Л.В.
 Пудонин Ф.А.
 Шерстнев И.А.
 Подгорная С.В.
 Шпый И.А.
 Беклемишева А.В.
Год публикации
 2017
Тип работы
 статья в научном журнале
Ссылка на статью
 Хашим Х., Сингх С.П., Панина Л.В., Пудонин Ф.А., Шерстнев И.А., Подгорная С.В., Шпый И.А., Беклемишева А.В. Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагнитными слоямиетн. Физика твердого тела. 2017. Т. 59. Вып. 11. С. 2191-2196.
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН