Главная  Каталог авторов Каталог трудов Расширенный поиск Добавление статей Регистрация

New Metric for Evaluating the Effectiveness of Redundancy in Fault-Tolerant Logic Circuits
Авторы
 Telpukhov D.V.
 Zhukova T.D.
Год публикации
 2021
Тип работы
 текст доклада на конференции
Ссылка на статью
 Telpukhov D.V., Zhukova T.D. New Metric for Evaluating the Effectiveness of Redundancy in Fault-Tolerant Logic Circuits. 2021 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS). 2021. Pp. 1-6. doi: 10.1109/EWDTS52692.2021.9581027.
Сайт ИППМ    Сайт ИнфоМЭС    Обратная связь
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved.
Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года.
Разработка сайта - ИППМ РАН