|
|
| Hardware-Software Subsystem for MOSFETs Characteristic Measurement and Parameter Extraction with Account for Radiation Effects |
|
|
| Авторы |
| | Petrosyants K.O. |
| | Kharitonov I.A. |
| | Sambursky L.M. |
| Год публикации |
| | 2013 |
| Тип работы |
| | статья в научном журнале |
|
| Ссылка на статью |
| | Petrosyants K.O., Kharitonov I.A., Sambursky L.M. Hardware-Software Subsystem for MOSFETs Characteristic Measurement and Parameter Extraction with Account for Radiation Effects. Advanced Materials Research. 2013. Vol. 718–720. Р. 750-755. |
|
|
Сайт ИППМ
Сайт ИнфоМЭС
Обратная связь
|
Copyright © 2012-2025 ИППМ РАН. All Rights Reserved. Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года. |
Разработка сайта - ИППМ РАН
|