|
Hardware-Software Subsystem for MOSFETs Characteristic Measurement and Parameter Extraction with Account for Radiation Effects |
|
|
Авторы |
| Petrosyants K.O. |
| Kharitonov I.A. |
| Sambursky L.M. |
Год публикации |
| 2013 |
Тип работы |
| статья в научном журнале |
|
Ссылка на статью |
| Petrosyants K.O., Kharitonov I.A., Sambursky L.M. Hardware-Software Subsystem for MOSFETs Characteristic Measurement and Parameter Extraction with Account for Radiation Effects. Advanced Materials Research. 2013. Vol. 718–720. Р. 750-755. |
|
|
Сайт ИППМ
Сайт ИнфоМЭС
Обратная связь
|
Copyright © 2012-2024 ИППМ РАН. All Rights Reserved. Обновлённая и существенно переработанная версия системы от 2016 года. |
Разработка сайта - ИППМ РАН
|